受託開発事例集
センサ検査システムセンサ検査システム
計測システム
案件名 | センサ検査システム |
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ユーザ様 | 半導体・センサメーカー様 |
概要 |
ご要望
新しく設計開発した半導体ICのテスティング治具を作りたい。テスティング工数の削減のため、一度にたくさんのICのテスティングを行えるようにしてほしい。 ご提案
最大200個弱のICを1つのCPUでは制御するのはシステムのパフォーマンスの面でリスクがあります。FPGAを搭載したテスティングシステムをご提案いたします。回路設計・FPGA設計からFW設計、実装までシステム全体をご提供することが可能です。 FPGAを利用してたくさんのICを制御可能なテスティング治具を制作し納品いたしました。テスティング工数が大幅に削減できたと大変満足頂けました。
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キーワード | Verilog-HDL,RX62N,FPGA,SPI,RS485,マイコン周辺回路設計 |